硬化膜接触式探头系列
探头式光学膜厚测量设备·硬化膜专用
硬化膜（Hard Coat）专用·接触式探头·贴合样品光程稳定·适配弧面与曲面件
产品简介
FILMTHICK-C20-HC 硬化膜接触式探头系列，面向车载 HC 硬化膜、手机与显示盖板硬化膜、眼镜镜片硬化膜等较硬涂层的厚度与均匀性检测。设备采用反射式光谱干涉测厚原理，机械结构集成进口长寿命卤钨灯光源，配合自研高精度光谱仪与 FFT 傅里叶法、极值法、拟合法三大反演算法；采用接触式探头贴合样品表面采集光谱，光程稳定、重复性好，接触压力可控并配软性接触头，尤其擅长眼镜镜片、车载大灯罩等弧面与曲面件。
配套 OPTICAFILMTEST 光学膜厚测量软件内置类型丰富、开放式的材料折射率数据库，测量期间可实时显示干涉、FFT 波谱和膜厚趋势，协助用户完成测试分析。可测量单层及多层硬化膜厚度、折射率 n、消光系数 k、反射率与颜色等参数。硬件采用模块化设计，核心部件可独立更换，便于后续功能扩展；探头形态与同轴立式支架按样品与现场条件选配。
核心卖点
接触式探头，光程稳定探头贴合样品：表面采集光谱，光程稳定、重复性好；接触压力可控并配软性接触头，兼顾贴合与样品保护；
专攻硬化膜类涂层：面向车载 HC 硬化膜、手机盖板硬化膜、眼镜镜片硬化膜等较硬涂层，公司实测车载 HC 硬化膜约 52μm；
适配弧面与曲面件：平面与球面样品均可测量，典型场景为眼镜镜片、车载大灯罩等曲面光学件；
标准 SMA905 探头接口：光纤探头接口采用标准 SMA905 传输线路，配套同轴立式支架，确保测量稳定性与重复性；
探头形态可选：标准 1m；长距型 2 至 5m（大空间布局）；抗干扰型（屏蔽层增强）；软性弯曲型（复杂路径）；
与 C10 平台同源：共用 FFT / 极值 / 拟合三算法与 OPTICAFILMTEST 测量软件，内置开放式材料折射率数据库，配方与数据格式互通。
适用行业与应用场景
车载大灯 HC 硬化涂层
手机盖板硬化膜
眼镜镜片硬化膜
显示盖板硬化膜
镜片与曲面件镀层
精密零件涂层
为什么选择景颐光电？
自主研发
膜厚反演算法（FFT 傅里叶法、极值法、曲线拟合法）与OPTICAFILMTEST 测量软件均为我司自主研发；光谱采集模块采用自研高精度光谱仪；
国家高新技术企业
公司成立于 2013 年，国家高新技术企业、专精特新企业、科技创新小巨人企业；与清华大学、北京大学等高校及研究院长期合作；
本地化服务
广州总部直服全国，提供在线远程培训、上门安装、远程故障诊断与备件速发；服务链路短于进口品牌经代理的间接模式；
可打样验证
合同签订前可安排实际样品免费打样测试，出具实测评估系数与重复性数据，作为配置确认与验收依据。
常见问题解答
Q: 本设备主要测量哪些类型的硬化膜？
A: 本设备专为硬化膜（Hard Coat）设计，适用于车载HC硬化膜、手机与显示盖板硬化膜、眼镜镜片硬化膜等较硬涂层的厚度与均匀性检测。
Q: 探头测量时如何保证对样品（如镜片）的保护？
A: 设备采用接触式探头，具备可控的接触压力和软性接触头，能够在保证光谱采集的同时，兼顾对样品表面的保护。
Q: 除了膜厚，该设备还能测量哪些参数？
A: 除了膜厚，配套软件还支持测量材料的折射率n、消光系数k、反射率以及颜色等多种参数。
- 光学原理 反射式光谱干涉法（接触式探头采集）
- 测量方式 接触式探头，探头贴合样品表面；接触压力可控，配软性接触头
- 探头接口 标准 SMA905 光纤接口，配套同轴立式支架
- 样品适配 平面与球面样品（如眼镜镜片、车载大灯罩）
- 探头形态 标准 1m / 长距型 2 至 5m / 抗干扰型 / 软性弯曲型
- 光源 机械结构集成的进口长寿命卤钨灯光源，寿命≥10,000 小时
- 算法模型 FFT 傅里叶法、极值法、曲线拟合法；支持多层膜逐层拟合
- 可测参数 膜厚 d、反射率光谱 R(λ)、颜色、折射率 n、消光系数 k
- 软件 OPTICAFILMTEST 光学膜厚测量软件，Windows 10 / 11 64 位；内置开放式材料折射率数据库，支持 CSV / Excel / XML / PDF 报告导出
- 工作环境 温度 18-28℃，湿度 <80% 无结露；AC 220V±10%，50Hz
- 注 本技术规格最终解释权归生产厂家所有
